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Technical-News 4H-SiC の HR-TEM 観察
4H-SiC(0001)Si 微小オフ基板上の液相エピタキシャル膜における転位
山口博隆、松畑洋文 産業技術総合研究所
研究成果報告書 - KAKEN - 科学研究費助成事業データベース
FIB加工技術の進歩とイオン顕微鏡としての応用
FIB を用いた TEM 観察用試料作製の技術修得
第 2回講演会 - 応用物理学会
本文PDF - 日本顕微鏡学会
