データ取得・解析ソフトウェア
各¥600,000より
(A/D変換ボード付の選択可)
さまざまな光源を用いた「CRD分光法」および「周波数変調分光法」のデータ取得
および解析を行うソフトウェアです。A/D変換ボードと組み合わせることにより、オシ
ロスコープを使用することなく、「データの取得」「解析」「保存」を行うことが可能です。
安価なA/D変換ボードを利用することにより、低コスト化を実現しました。
CRD分光法用プログラム
・ パルス光型CRD分光法(pulsedCRDS)、連続光型CRD分光法
(cw-CRDS)、に使用可能です。
・ リングダウン波形の取り込み、
および、指数関数フィッティング
を行い、リングダウン速度(s-1)
を計算します。
<オシロスコープ表示モード>
・ データ取得および解析における様々な
パラメーター(取り込み範囲・フィッティン
グ範囲・積算回数等)を容易に設定でき
ます。
<解析手法の
設定画面>
・ レーザー波長の制御、及び2種類のレー
ザー間の発振タイミングの制御が可能で
あり、「波長スキャン」「Delayスキャン」の
2つの計測モードがあります。
<波長スキャンモード>(図はHFのスペクトル)
(使用レーザー例) 色素レーザー(LambdaPhysik), OPOレーザー(Spectra- Physics),
半導体レーザー(santec)など
基本性能
縦軸分解能
12 bit
サンプリングレート
(最小横軸分解能)
50-100 MS/s
(10-20 ns)
縦軸電圧レンジ
0.01-20 V(選択可)
横軸時間レンジ
10-8-10-1 sec(選択可)
データ取得 繰り返し
最大25 Hz程度1)
ノートPC対応
可
1) PCの性能・データポイント数に依存する
周波数変調分光法用プログラム
(図はCO2のスペクトル)
・ 変調された信号を取り込み、積算・
平均化を行い、スペクトルを表示する
プログラムです。FFTローパスフィル
ター機能により直感的かつ高精度に
ノイズを除去することが可能です。
(使用レーザー例)
半導体レーザー(NTT Electronics,
Anritsu など)
基本性能
縦軸分解能
16 bit
データ取得 繰り返し
最大50 Hz程度1)
縦軸電圧レンジ
-10-10 V(固定)
ノートPC対応
可
1) PCの性能・データポイント数に依存する
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CRDS解析ソフト