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特 許 公 報 特許第5769329号
JP 2011-16062 A 2011.1.27 10 (57)【要約】 【課題】一般に紫外光を
(57)【特許請求の範囲】 【請求項1】 サトウキビに対して光を投射する投光
JP 4570064 B2 2010.10.27 10 20 (57)【特許請求の範囲】 【請求項1
JP 2012-18150 A 2012.1.26 10 (57)【要約】 【課題】 低コストで信頼性
(57)【特許請求の範囲】 【請求項1】 を備え ていることを特徴とする
(特許)3468335
公開特許公報 特開2015
(57)【特許請求の範囲】 【請求項1】 加速器から発せられ入射されるX線を
特 許 公 報 特許第5747295号
立坑とシールドトンネルとの接合部に於 いて、シールド
高感度‐非接触型高分子材料劣化測定装置
(57)【要約】 【課題】大型化した貯槽においても、ポンプバレル
