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時代はデジタル分光へ・・・・ ハンディNIR PhazirRxTM

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機器分析法の概要

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ワイドギャップ半導体の欠陥準位計測とバンド構造解析

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ピンポイント濃縮/顕微FT-IR、 MALDI

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テラヘルツ分光 - SLiT

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1/60000 の高精度で取引・証明にも使用できます。

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すばる望遠鏡で迫るスーパーフレア星の正体 ～巨大な黒点を

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X線光電子分光分析装置～X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS)～

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宮田喜久子 「QSAT磁気トルカの較正試験結果」

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殆ど知られていない光脱着現象を利用した世界初の新規

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