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Ⅰ-8：イオン液体を用いた 逆浸透膜のSEM観察
Ⅰ-1：ナノIR ～極微小部の赤外分析～
カールフィッシャー法、 TPD-MS
高分解能LC/MS/MSによる 精密質量測定
Ⅰ-7：高速ラマンイメージング による構造分布解析
GaN系LEDチップの結晶性 評価と故障解析
薄膜Si系太陽電池の分析評価 （断面観察・不純物
第29回元素分析技術研究会
（1）TRCの電子材料分野への 取り組み
ピンポイント濃縮/顕微FT-IR、 MALDI
水溶性有機化合物の誘導体化
オンライン濃縮キャピラリー ゾーン電気泳動法による 微量異物の分析
減圧および加熱条件下で 発生する有機ガスの分析
高感度CW/パルスESR装置 を用いた欠陥および 金属イオンの状態分析
（2）SiCエピ膜内の結晶欠陥評価
LC-MS/MSによる核酸医薬品 の定量−アンチセンスDNA を用いた検討事例
近接場PL, 高空間分解能CL,紫外ラマン 顕微鏡
太陽電池封止部材の 劣化の総合解析
IZO透明導電膜の 熱・機械・光学特性と 内部構造の関係
樹脂膜/金属間の接着力発現 メカニズム解析
（1）SiCパワー半導体関連材料 の分析
フィルムの製品トラブル 原因追求のための分析
（4）a-IGZOの組成・構造解析
