Slide
Show JP
☰
探り
ログイン
ユーザーアカウントの作成
Upload
×
ダウンロード
No category
（1）SiCパワー半導体関連材料 の分析
近接場PL, 高空間分解能CL,紫外ラマン 顕微鏡
Ⅰ-1：ナノIR ～極微小部の赤外分析～
Ⅰ-8：イオン液体を用いた 逆浸透膜のSEM観察
カールフィッシャー法、 TPD-MS
（2）SiCエピ膜内の結晶欠陥評価
高分解能LC/MS/MSによる 精密質量測定
震災で発生したガレキは莫大な量となり、全てを埋め立て処理できるもの
Ⅰ-7：高速ラマンイメージング による構造分布解析
GaN系LEDチップの結晶性 評価と故障解析
